AFM

L’indagine AFM permette di ottenere informazioni sulla topografia e sulle proprietà superficiali dei materiali, con risoluzione alla nanoscala. L’imaging FIB sfrutta un fascio di ioni a 30 kV per imaging e lavorazioni alla micro- e nano-scala. Presenta una risoluzione di 10 nm sia in termini di imaging che di lavorazione ed è compatibile con sistemi di nanomanipolazione.